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软件

Wavelight.LAB 是一款现代软件,专为自动化控制 Wavelight Technologies 的单色仪和光谱仪,以及光谱数据处理而设计。

主要特色:
  • 支持多个设备和探测器之间的快速切换连接。
  • 高度自动化,实现快速频谱采集和数据提取。
  • 提供灵活的数据导出选项,支持CSV、BMP和PNG格式,便于进一步处理。

描述

Wavelight.LAB 软件功能

Wavelight.LAB 旨在为 Wavelight Technologies 生态系统中的设备提供功能齐全、自动化的控制。它支持单色仪、探测器和光谱仪的运行与集成,为光谱研究和分析提供了强大的工具包。

核心功能:

  • 所有单色器机构的自动控制
  • 探测器控制与数据采集
  • 全景和扫描光谱采集
  • 频谱处理、编辑与保存
  • 波长校准的创建、存储与编辑
  • 完全控制光源的输入/输出触发
  • 强度校准光谱仪的作
  • 比色分析
  • PMT(光电倍增管)作

用户界面概述:

Wavelight.LAB 采用直观的界面,由多个面板组成,便于简化设备管理和数据处理:

  • 主面板——软件控制的中央枢纽。
  • 数据面板——存储和管理记录的光谱。
  • 当前光谱面板——显示选定光谱以供实时观看。
  • 相机设置面板——调整探测器参数和采集设置。
  • 仪表盘——控制单色仪部件,包括: 波长调谐 光栅选择 顺序排序滤波器选择 进出口狭缝调整 输入/输出端口切换 快门作
  • 状态栏——显示系统状态和消息。

扫描与全景采集:

Wavelight.LAB支持扫描和全景模式进行光谱记录,根据您的测量需求提供灵活性。

强度校准:

如果您的光谱仪配备了强度校准,Wavelight.LAB包含预加载的校准系数表,用于谱辐射度绘图。用户也可以根据需要创建自定义校准表。

比色法:

比色分析小组提供关键指标包括:

  • 色度坐标
  • 相关色温(CCT)
  • 色彩表现指数(CRI)
  • CIE CAM02指数

用户可以选择标准观察者角度(2°或10°)和色彩空间(CIE 1931、1960或1976)。面板还显示活跃色彩空间、黑体曲线、参考照明源(C、D50、D65)以及测量光源的位置。

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